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    單波長X熒光硅含量分析儀的自動定性分析分享

     發布時間:2022-03-28 點擊量:170
      單波長X熒光硅含量分析儀除了能夠進行硅含量分析之外,還可以檢測從磷到鋅的12種元素,尤其適用于亞ppm級別的鈣、鐵、鉀、鎳和釩等主要元素。采用高分辨率X射線熒光(HDXRF)技術,適用于檢測原油、柴油、汽油、噴氣燃料和潤滑劑等碳氫化合物,以及煤炭等固體樣品。
      該技術在傳統的X射線熒光的技術基礎上,在X光源系統中加入了晶體光柵分光技術并且同時采用了光學系統真空技術,成功的降低了X射線熒光分析技術的復雜背景。使用以上的單波長技術使得該分析儀的檢測下限由傳統X射線熒光分析儀的50ppm降低到0.13ppm,避免了微庫侖電量法對人員要求高的不足,經過煉油廠用戶使用情況重復性、再現性優于微庫侖。
      今天咱們來聊一聊單波長X熒光硅含量分析儀的自動定性分析:
      1、自動過濾背景
      X射線管的連續X射線所產生的散射線會產生較大的背景,軟件可自動過濾背景對分析結果的干擾,從而能確保對任何塑料樣品的進行快速準確的分析。
      2、自動剝離重疊峰
      當某些元素的電子由高等級向低等級越遷時釋放的能量相近,會使此時譜圖的波峰重疊在一起,由此產生了重疊峰。軟件自動剝離重疊峰,確保了元素分析的正確性。
      3、自動補償逃逸峰
      逃逸峰:由于采用的是Si針半導體探測器,因此當X射線熒光在通過探測器的時候,如果某種元素的含量較高(能量也會相應的較高),其被Si吸收的概率也就越大。此時,光譜圖在該元素的能量值減去Si能量值的地方回產生一個峰,此峰即為逃逸峰。
      4、自動追蹤譜圖漂移
      在電壓不穩的情況下,可對掃描譜圖的漂移進行自動追蹤補償。
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